高溫測試_高溫試驗,深圳安全可靠性實驗室!
高低溫測試是針對高性能電子產品(如:計算機整機,顯示器,終端機,車用電子產品,電源供應器,主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設備,是提高產品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設備、是各生產企業(yè)提高產品質量和競爭性的重要生產流程,該設備廣泛應用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領域。根據不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風力恒溫系統(tǒng)、時間控制系統(tǒng)、測試負載等,通過此測試程序可檢杳出不良品或不良件,是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段,充分提高客戶生產效率和產品品質。
高溫試驗的作用
高溫試驗室的主要功用是對電子設備進行高溫試驗或溫度變化試驗,它可以對大型或小型大批量電子設備進行試驗。
電子設備一般都要進行高溫試驗和溫度變化試驗。高溫試驗(包括高溫老化)可以考核電子設備在高溫環(huán)境條件下貯存、運輸和使用的適應性,溫度變化試驗可以確定電子設備在貯存、運輸和使用期間可能遇到的溫度迅速變化的適應性。通過試驗可以暴露諸如設計、工藝、元器件等方面的缺陷,以便采取適當對策,改進產品,提高產品質量
為能正確觀察與驗證產品在高溫環(huán)境下之熱效應,同時避免因濕度效應影響試驗結果,標準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。
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高溫條件下試件的失效模式產品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現象。
高溫試驗環(huán)境
80±2℃環(huán)境中放置4h,常溫下放置2h后,各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無變形、翹曲、脫膠等異常現象。按鍵凸點高溫下塌以及按力變小不作考核。
溫度范圍:10℃~210℃。
按GB/T 2423.1—89 《電工電子產品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 低溫試驗》;
GB/T 2423.22—87 《電工電子產品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 溫度變化試驗方法》
進行高溫試驗及溫度變化試驗。